期刊


ISSN0178-9422
刊名Fortschritt-Berichte VDI
参考译名德国工程师协会志，进展报告，第9辑：电子学/微型与纳米技术
收藏年代2001～2025

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Fortschritt-Berichte VDI德国工程师协会志，进展报告，第9辑：电子学 


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题名作者出版年年卷期
Zuverlassigkeit von grossflachigen Verbindungen in der Leistungselektronik - Ein Beitrag zum "Design for Reliability"Thoben, Markus20022002, no.363
Zuverlassigkeit von grossflachigen Verbindungen in der Leistungselektronik - Ein Beitrag zum "Design for Reliability"Thoben, Markus20022002, no.363
Integrationsgerechte Schwellwertgatter in CMOS-TechnikBurwick, Christian20022002, no.362
Integrationsgerechte Schwellwertgatter in CMOS-TechnikBurwick, Christian20022002, no.362
Testverfahren fur digitale eingebettete Ein-Chip-SystemeDorsch, Rainer20022002, no.361
Testverfahren fur digitale eingebettete Ein-Chip-SystemeDorsch, Rainer20022002, no.361
Modellierung und Schaltungstechnik fur den Hochtemperatureinsatz von BCD-TechnologienHurtgen, Jurgen20022002, no.360
Modellierung und Schaltungstechnik fur den Hochtemperatureinsatz von BCD-TechnologienHurtgen, Jurgen20022002, no.360
Mid-Bandgap-Materialien fur den CMOS-Prozess im Sub-100 nm-BereichVieregge, Thomas20022002, no.359
Mid-Bandgap-Materialien fur den CMOS-Prozess im Sub-100 nm-BereichVieregge, Thomas20022002, no.359
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