期刊


ISSN0171-8096
刊名Technisches Messen
参考译名技术检测
收藏年代1998～2024



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2004, vol.71, no.1 2004, vol.71, no.10 2004, vol.71, no.11 2004, vol.71, no.12 2004, vol.71, no.3 2004, vol.71, no.4
2004, vol.71, no.5 2004, vol.71, no.6 2004, vol.71, no.7-8 2004, vol.71, no.9

题名作者出版年年卷期
Charakterisierung von OLED-Schichten mittels Spektral-EllipsometrieElmar Hartmann20042004, vol.71, no.11
Geometrische normate zur prufung von konturmessgeratenMichael Neugebauer; Heinz-Joachim Kedziora; Maik Meyer; Raimund Volk; Otto Jusko; Franz Waldele20042004, vol.71, no.11
Entwicklung eines fokussensors und integration in die nanopositionier- und nanomessmaschineRostyslav Mastylo; Gerd Jager; Eberhard Manske20042004, vol.71, no.11
Schaumcharakterisierung mit optischen messtechniken und PC-gestutzter bildverarbeitungErnst-Christoph Hass; Ralph Ottensmeyer; Arne Wittstock20042004, vol.71, no.11
Online-Analyse mit Lab-on-Chip-SystemenSigrun Herrmann; Winfried Vonau20042004, vol.71, no.11



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