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2010, vol.77, no.1	2010, vol.77, no.10	2010, vol.77, no.11	2010, vol.77, no.12	2010, vol.77, no.2	2010, vol.77, no.3
2010, vol.77, no.4	2010, vol.77, no.5	2010, vol.77, no.6	2010, vol.77, no.7/8	2010, vol.77, no.9

题名	作者	出版年	年卷期
Synchronous Artefact Reduction in Industrial Computed Tomography	Matthias Franz; Stefan Kasperl; Marc Stamminger	2010	2010, vol.77, no.11
Ein modifiziertes Bath-Interferometer zur Profilmessung von Mikrostrukturen	Christoph Gerhard; Frank Vollertsen	2010	2010, vol.77, no.11
Kraftmikroskopie durch Einzelpunktantastung an Strukturkanten	Dorothee Huser; Wolfgang Hassler-Grohne; Klaus-Dieter Katzer; Jens Hunecken; Hans-Achim Fuss; Harald Bosse	2010	2010, vol.77, no.11
Modellbasierte Kalibrierung von Streifenprojektionssystemen mit telezentrischer Kamera	Klaus Haskamp; Markus Kastner; Eduard Reithmeier	2010	2010, vol.77, no.11
Detektion von Verschleissbereichen mittels ortsaufgeloster 3D-Rauheitsanalyse	Alexander Leis; Markus Kastner; Eduard Reithmeier	2010	2010, vol.77, no.11
Aufgabenspezifische Messunsicherheit von Koordinatenmessungen	Michael Hernla; Klaus Wendt; Matthias Franke	2010	2010, vol.77, no.11