期刊


ISSN0913-5685
刊名電子情報通信学会技術研究報告
参考译名电子信息通信学会技术研究报告：可靠性
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2010, vol.110, no.99

题名作者出版年年卷期
π共役系保護基を有するAuナノ粒子を用いた二重トンネル接合の抵抗値皆川慶嘉; 加納伸也; 東康男; 金原正幸; 寺西利治; 真島豊20102010, vol.110, no.100
ポルフィリン自己組織化単分子膜によるペンタセンTFTの接触抵抗の低減東康男; 鈴木太陽; 山田泰之; 田中健太郎; 原正幸; 寺西利治; 真島豊20102010, vol.110, no.100
キラルなポリジアセチレン薄膜の作製とその重合過程の検討金英輝; 篠竜徳; 大嶋優記; 間中孝彰; 岩本光正20102010, vol.110, no.100
走査トンネル顕微鏡を用いたポルフィリン分子の電気的特性の観察加納伸也; 皆川慶嘉; 東康男; 山田泰之; 田中健太郎; 真島豊20102010, vol.110, no.100
ガスフロースパッタ法により低温で作製したAlドープZnO薄膜の電気的·光学的性質の酸素量依存性須藤隆吉; 近藤祐邦; 佐久間洋志; 石井清; 荒巻慶輔; 尹炅成; 近藤洋文20102010, vol.110, no.100
ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象－接触抵抗について（12）和田真一; 越田圭治; 園田健人; サインダーノロブリン; 小田部正能; 久保田洋彰; 澤孝一郎20102010, vol.110, no.100
ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象－摺動機構のモデリング（1）和田真一; 越田圭治; 園田健人; サインダーノロブリン; 小田部正能; 久保田洋彰; 澤孝一郎20102010, vol.110, no.100
銅箔の直接電磁圧接相沢友勝; 杉山善崇; 岡川啓悟20102010, vol.110, no.100



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