期刊


ISSN0913-5685
刊名電子情報通信学会技術研究報告
参考译名电子信息通信学会技术研究报告：可靠性
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2010, vol.110, no.99

题名作者出版年年卷期
SSPDアレー化のためのSFQ読み出し動作の実証寺井弘高; 三木茂人; 山下太郎; 牧瀬圭正; 王鎮20102010, vol.110, no.235
10kA/cm~2 Nb Processを用いたSFQバタフライ演算回路の要素回路の動作評価宮岡史滋; 島村泰浩; 貝沼世樹; 山梨裕希; 吉川信行20102010, vol.110, no.235
10kA/cm~2プロセスを用いた2並列2段単一磁束量子再構成可能なデータパスの動作実証岡田将和; カタエバイリナ; 伊藤将人; 田中雅光; 赤池宏之; 藤巻朗; 吉川信行; 永沢秀一; 高木直史20102010, vol.110, no.235
SFQ回路への光回路の集積～ISTEC Nb standard process IIを用いた光コンポーネントの検討有田与希; 吉川信行; 馬場俊彦20102010, vol.110, no.235
TDGL方程式による超伝導体薄膜の磁場排除効果の数値解析堤早希; 御田村直樹; 赤池宏之; 井上真澄; 藤巻朗20102010, vol.110, no.235
プラズマ窒化AlN_x障壁層を持つNbNトンネル接合の電気的特性内藤直生人; 船井辰則; 丸山千風; 赤池宏之; 藤巻朗20102010, vol.110, no.235
非対称ナノブリッジにおけるボルテクスのラチェット的挙動藤田圭佑; 梶野顕明; 早川桂太; 安保宇; 井上真澄; 藤巻朗20102010, vol.110, no.235
Josephson-CMOSハイブリッドメモリのアクセスタイムのアドレス依存性の測定矢口謙太; 桑原啓太; 陳賢珠; 山梨裕希; 吉川信行20102010, vol.110, no.235
電流バイアスされた固有ジョセフソン接合からのテラヘルツ波放射スペクトルの検討立木隆; 内田貴司20102010, vol.110, no.235
NbN及びMgB_2を用いたグラウンドプレーンによる磁束トラップへの影響御田村直樹; 内藤直生人; 赤池宏之; 藤巻朗; 新原佳紘; 内藤方夫20102010, vol.110, no.235
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