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期刊
ISSN
0913-5685
刊名
電子情報通信学会技術研究報告
参考译名
电子信息通信学会技术研究报告:可靠性
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全部
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2010, vol.110, no.100
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2010, vol.110, no.110
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2010, vol.110, no.36
2010, vol.110, no.360
2010, vol.110, no.363
2010, vol.110, no.366
2010, vol.110, no.367
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2010, vol.110, no.389
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2010, vol.110, no.439
2010, vol.110, no.44
2010, vol.110, no.442
2010, vol.110, no.443
2010, vol.110, no.445
2010, vol.110, no.447
2010, vol.110, no.451
2010, vol.110, no.459
2010, vol.110, no.465
2010, vol.110, no.469
2010, vol.110, no.471
2010, vol.110, no.48
2010, vol.110, no.5
2010, vol.110, no.51
2010, vol.110, no.53
2010, vol.110, no.54
2010, vol.110, no.57
2010, vol.110, no.6
2010, vol.110, no.62
2010, vol.110, no.63
2010, vol.110, no.66
2010, vol.110, no.7
2010, vol.110, no.71
2010, vol.110, no.74
2010, vol.110, no.82
2010, vol.110, no.86
2010, vol.110, no.87
2010, vol.110, no.9
2010, vol.110, no.90
2010, vol.110, no.91
2010, vol.110, no.96
2010, vol.110, no.98
2010, vol.110, no.99
题名
作者
出版年
年卷期
Magnetic properties of TbFeCo films with Au underlayer for perpendicular magnetic recording
Songtian LI; Xiaoxi LIU; Akimitsu MORISAKO
2010
2010, vol.110, no.261
グラファイト触媒を用いたHW-CVD法によるSiC薄膜の低温形成
坂口優也; 中村嘉孝; 有馬潤; 森山和久; 林部林平; 阿部克也
2010
2010, vol.110, no.261
直接窒化法で形成したSiC表面窒化層の厚さと界面特性の評価
鈴木真一郎; 村田裕亮; 逸見充則; 山上朋彦; 林部林平; 上村喜一
2010
2010, vol.110, no.261
FTS法にUBMS法を組み合わせたSrAl_2O_4:Eu,Dy薄膜の作製
久野敬史; 齋藤稔; 小林和晃; 清水英彦; 岩野春男; 川上貴浩; 福嶋康夫; 永田向太郎
2010
2010, vol.110, no.261
MCR-CVD法によるフッ素フリータングステン成長
渡邉雄仁; 柴田明; 鹿又健作; 鈴木貴彦; 廣瀬文彦
2010
2010, vol.110, no.261
MIS型ショットキー接触の電流電圧特性を利用した窒化膜/SiC界面特性の評価
村田裕亮; 鈴木真一郎; 小林尚平; 山上朋彦; 林部林平; 上村喜一
2010
2010, vol.110, no.261
高周波スパッタリングによるニッケル酸化物半導体の作製及び評価
永田篤史; 内田和男; 小泉淳; 小野洋; 野崎眞次
2010
2010, vol.110, no.261
パルスモードホットメッシュCVD法によるGaN成長条件の最適化
永田一樹; 里本宗一; 片桐裕則; 神保和夫; 末光真希; 遠藤哲郎; 伊藤隆; 中澤日出樹; 成田克; 安井寛治
2010
2010, vol.110, no.261
Alq_3/PEDOTを用いたスピンコート法による2層低分子有機EL薄膜の簡易作製
中條妃奈; 野田淳史; 岩田展幸; 山本寛
2010
2010, vol.110, no.261
横方向DCELデバイスにおけるZnOナノロッド上でのEL蛍光体の堆積形態の影響
佐藤知正; 松澤友紀; 金城貴樹; 平手孝士
2010
2010, vol.110, no.261
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